PID是一種電勢(shì)誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，最早由SunPower發(fā)現(xiàn)，是指組件長(zhǎng)期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF）, 短路電流（Isc）,開(kāi)路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。

2010年，NREL和Solon證實(shí)了無(wú)論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。中科檢測(cè)具備光伏組件pid測(cè)試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測(cè)報(bào)告。

PID測(cè)試有兩種加速老化的方法：
1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時(shí)間。
2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時(shí)。

PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 （Draft） 根據(jù)IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀檢測(cè)；
根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測(cè)試；
根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試；
如果組件有裸露的導(dǎo)電部位，則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過(guò)CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。

2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。

3.技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。

4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球，眾多一線品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。